英國Elcometer456分體式涂層測厚儀,易高456系列測厚儀
型 號: | |
報 價: | |
更新時間: | 2023-11-10 |
訪問次數: | 2020 |
英國Elcometer456分體式涂層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀,易高456系列測(ce)厚(hou)(hou)儀分為4個類型:E型、B(基(ji)本(ben)型)、S(標準型)、T(高級(ji)型),Elcometer 456 分體式涂層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀提供多(duo)種(zhong)探(tan)頭,測(ce)量機動性更(geng)強。所(suo)有(you)探(tan)頭可互相更(geng)換,鐵(tie)基(ji)儀器可接(jie)(jie)受任(ren)何鐵(tie)基(ji)探(tan)頭,非(fei)鐵(tie)基(ji)儀器可接(jie)(jie)受任(ren)何非(fei)鐵(tie)基(ji)探(tan)頭,兩(liang)(liang)用儀器可接(jie)(jie)受所(suo)有(you)鐵(tie)基(ji)探(tan)頭、非(fei)鐵(tie)基(ji)探(tan)頭及兩(liang)(liang)用探(tan)頭。
- 產品描述
品牌 | ELCOMETER/英國易高 |
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英國(guo)Elcometer456分(fen)體(ti)式涂層(ceng)測(ce)厚儀,易高456系列測(ce)厚儀
英國易高Elcometer456涂層測厚儀儀器分為4個類型:E型、B(基本型)、S(標準型)、T(高級型),從zui初的易高456E型到現在的456T型,儀器功能不斷增加,456T型帶有記憶、字母數字組合記錄數據批次和藍牙傳輸功能。
英國易高Elcometer 456測量涂層厚度更快、更可靠、更準確。分體式提供多種探頭,測量機動性更強。所有(you)探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)可(ke)互相(xiang)更(geng)換,鐵基(ji)(ji)(ji)儀(yi)(yi)器(qi)可(ke)接(jie)受任(ren)何(he)鐵基(ji)(ji)(ji)探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou),非(fei)鐵基(ji)(ji)(ji)儀(yi)(yi)器(qi)可(ke)接(jie)受任(ren)何(he)非(fei)鐵基(ji)(ji)(ji)探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou),兩用儀(yi)(yi)器(qi)可(ke)接(jie)受所有(you)鐵基(ji)(ji)(ji)探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)、非(fei)鐵基(ji)(ji)(ji)探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)及兩用探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)。
Elcometer456鐵基分體式儀器 | - | A456CFBS | A456CFSS | A456CFTS |
Elcometer456非鐵(tie)基分體式儀器 | - | A456CNBS | A456CNSS | A456CNTS |
Elcometer456兩用分體式儀(yi)器(qi) | - | A456CFNFBS | A456CFNFSS | A456CFNFTS |
英國Elcometer456涂層測厚儀的主要功能包括:
簡(jian)便易用
- 大按(an)鍵,即使(shi)戴(dai)上手套也可方便操作
- 多(duo)語言菜單設置
- 高對比(bi)度彩(cai)色LCD, 并帶有(you)自動旋轉功能
- 高、低限值指示標志
- 工廠已校準,拆包(bao)即用
讀數準確
- 測量精確度±1%
- 符(fu)合(he)多(duo)項(xiang)國(guo)家及標準
- 熱穩測量
- 薄(bo)涂(tu)層(ceng)上(shang)讀(du)數(shu)的分辨率提高(gao)
- 在(zai)平滑、粗糙、稀薄表面及曲面上都可準確測量
測量可靠(kao)
- 重復性和(he)再現性強
- 2 年主機保修期
- 提供全套可(ke)追溯檢驗證書
- 數據(ju)組合備日期和(he)時間標(biao)記功(gong)能
堅固
- 密封、耐用、抗沖(chong)擊(ji)性(xing)強
- 防(fang)塵防(fang)水,防(fang)護(hu)等級相(xiang)當于IP64
- 顯示器抗劃性(xing)及防溶(rong)劑性(xing)強
- 儀器及探(tan)頭結(jie)構持久耐用
- 適合在惡劣環(huan)境下使用
高效
- 快速讀(du)數:70+/分鐘,使用超聲/掃(sao)描探(tan)頭(tou)為:140+/分鐘
- 多(duo)種校(xiao)準記憶(yi)
- 字(zi)母數(shu)(shu)字(zi)組合命名數(shu)(shu)據組
- 用(yong)戶可選校準方法
- 與ElcoMaster™ 2.0和ElcoMaster™移動應用程序兼容
功能(neng)強大
- 多種探(tan)頭可互換使用
- USB和藍牙®數據輸出到iPhone*或Android™設備
- 可(ke)分2500組存儲150000個數據(ju)
- 能在金屬(shu)基體上測量厚(hou)度(du)達30mm(1200mils)的涂層
Elcometer 456 超聲/掃描探頭
掃描模式
選擇掃描(miao)(miao)模式*后(hou),用(yong)戶可(ke)(ke)在(zai)整個表(biao)面區(qu)域內滑動(dong)超聲/掃描(miao)(miao)探(tan)頭(tou)。 探(tan)頭(tou)離(li)開表(biao)面時,該測(ce)厚(hou)儀顯(xian)示平均(jun)涂(tu)層厚(hou)度值、zui高(gao)厚(hou)度以(yi)及zui低厚(hou)度值。 每(mei)組三(san)個讀(du)數(shu)(平均(jun)值、高(gao)、低值)可(ke)(ke)顯(xian)示在(zai)趨勢(shi)圖(tu)上(shang)并存儲于內存中。
掃描期間,Elcometer 456顯(xian)示(shi)實時(shi)厚(hou)度讀數以及模擬柱狀圖(tu),該圖(tu)展(zhan)示(shi)與(yu)名義(yi)厚(hou)度以及任何用戶定義(yi)限值(zhi)相關(guan)的(de)厚(hou)度。
自動重復模式
當超聲/掃(sao)描探頭(tou)在自動重復模式(shi)*下滑過涂層表面(mian)時,每半秒(miao)即可產生一個讀(du)數(shu)。 單個讀(du)數(shu)存儲在內(nei)存中。
以每分鐘(zhong)超過140條讀(du)數的讀(du)取率,自動重復模式可加快(kuai)檢驗(yan)大片涂(tu)層區域。
超聲/掃描探頭
Elcometer 456超聲(sheng)/掃(sao)描探頭具有經久耐用的(de)“卡入式(shi)”可換探頭蓋(gai),這一革命性的(de)設計(ji)使用戶可獲取(qu)單(dan)一讀數或快速掃(sao)描大塊表面(mian)區域,而不會損壞探頭或涂(tu)層(ceng)。
在Elcometer 456掃描或自動重復(fu)模式(shi)*下,超聲/掃描探頭可使用戶在確(que)保精確(que)度的條(tiao)件下,大大減少檢測時(shi)間(jian)。
超聲/掃描探頭(tou)使用(yong)補(bu)償功能+(Elcometer 456)時(shi),可(ke)確(que)保使用(yong)過(guo)程(cheng)中(zhong)任何(he)探頭(tou)蓋的磨損均納入(ru)校(xiao)準(zhun)過(guo)程(cheng)中(zhong)。 該儀器甚至可(ke)通知用(yong)戶何(he)時(shi)更換探頭(tou)蓋。
計數平均模式
Elcometer 456 S型和T型均具有計數平(ping)均模式。 一(yi)旦(dan)用戶定(ding)義了一(yi)次點(dian)測過程(cheng)中儀器的單個讀數量,儀器即可將單個讀數平(ping)均值存儲于(yu)內存中。
固定數組大小
Elcometer 456高級型具(ju)有的(de)固定(ding)數(shu)組(zu)大(da)(da)小功能可使用戶(hu)定(ding)義(yi)各數(shu)組(zu)中的(de)zui大(da)(da)讀數(shu)量。 一旦(dan)達到zui大(da)(da)讀數(shu)量,儀器將自動開啟與(yu)之前(qian)數(shu)組(zu)相關的(de)新數(shu)組(zu)(名稱—1、名稱—2等)。
符合標(biao)準與測試方法
SSPC PA2要求每次儀器點(dian)測(ce)至少三個讀數,在10m2(~100ft2)范圍內執行五次點(dian)測(ce)。標準與測試方法通常描述儀器一次點測過程中獲取的單一讀數量和/或已確定表面區域內所需的點測量。
Elcometer 456 S型或T型可設置(zhi)三個(ge)計數(shu)平均值及五(wu)個(ge)固定數(shu)組大小,以滿足此類要求。 各數(shu)組對(dui)應(ying)一個(ge)測量區域。
連接超聲/掃描探頭到已選自(zi)動重復模式(shi)的Elcometer 456 T型后,SSPC PA2(或(huo)類似測試方法)的完(wan)成速(su)度可(ke)提高40%。
Elcometer456分體(ti)式涂層測厚儀探頭介紹:
為滿足(zu)客戶的(de)特(te)定應用要求(qiu),所有的(de)Elcometer 456探頭*可互換,且提供大(da)量的(de)設計與刻度范圍。
- 平直探頭 – 可在平面和曲面上測量涂(tu)層
- 微型(xing)探頭 - 是測量邊緣涂層(ceng)、窄管(guan)涂層(ceng)或(huo)小型(xing)表面區域涂層(ceng)的理想產品
- 直角(jiao)探頭 – 用于測量難(nan)以接近的地方(fang)
- PINIP™探頭 – 插入式(shi)探頭,可把分體(ti)式(shi)儀(yi)器(qi)轉化(hua)為整體(ti)式(shi)儀(yi)器(qi)
- 遠端探(tan)頭(tou) – 可(ke)延伸直角探(tan)頭(tou)到(dao)達(da)一般探(tan)頭(tou)難以到(dao)達(da)的地(di)方
- 超聲/掃描(miao)探(tan)頭 - 這(zhe)些探(tan)頭均裝有可更換(huan)式探(tan)頭蓋-用戶可獲取單個讀(du)數或掃描(miao)大塊(kuai)表面區(qu)域,而不會損壞(huai)探(tan)頭
- 防水探頭(tou)– 封閉設計,深(shen)水中使(shi)(shi)用,即使(shi)(shi)佩(pei)戴潛水手套也不(bu)影響使(shi)(shi)用
- 高(gao)溫探(tan)頭 – 可用(yong)在溫度高(gao)達(da)250℃(480℉)的涂(tu)層上
- 陽極(ji)氧(yang)化(hua)探頭 – 抗(kang)化(hua)學(xue)溶劑腐蝕,非常適合(he)用在陽極(ji)氧(yang)化(hua)環境中
- 鎧裝探(tan)頭 – 探(tan)頭帶(dai)有(you)重型(xing)金屬(shu)強化(hua)電(dian)纜(lan)(lan),可降低電(dian)纜(lan)(lan)損壞風險(xian)
- 軟涂(tu)層探頭(tou) – 大(da)塊面積(ji)表面探頭(tou),用于檢(jian)測軟性覆蓋材(cai)料(經(jing)HVCA認(ren)證)
- 專業探(tan)頭(tou) - 這些(xie)探(tan)頭(tou)可用在專業基體上測(ce)量,如:石墨或電鍍組件
鐵基(ji)探(tan)頭(tou)測量鐵磁(ci)基(ji)體(ti)(ti)上的非(fei)磁(ci)性涂層(ceng)厚度(du)。 Elcometer 456鐵基(ji)類儀器(qi)(qi)認(ren)可任(ren)何鐵基(ji)探(tan)頭(tou)。 非(fei)鐵基(ji)探(tan)頭(tou)測量非(fei)鐵基(ji)金(jin)屬基(ji)體(ti)(ti)上的非(fei)導電涂層(ceng)厚度(du),Elcometer 456非(fei)鐵基(ji)類儀器(qi)(qi)認(ren)可任(ren)何非(fei)鐵基(ji)探(tan)頭(tou)。 兩用(yong)FNF探(tan)頭(tou)可同時(shi)用(yong)于鐵基(ji)和非(fei)鐵基(ji)應(ying)用(yong),具有自動識別基(ji)體(ti)(ti)功能。 Elcometer 456 FNF類儀器(qi)(qi)認(ren)可所有鐵基(ji)、非(fei)鐵基(ji)以(yi)及兩用(yong)FNF探(tan)頭(tou)。
除非另有說明,Elcometer分體式(shi)探頭需(xu)在(zai)低達150°C(300°F)的環境中使(shi)(shi)用,PINIP探頭需(xu)在(zai)80°C(176°F)的環境下使(shi)(shi)用。
所有Elcometer探頭均(jun)帶有檢測證書以及一套適用于該(gai)探頭刻度范圍的校準(zhun)膜片。
| 測量范圍: | 0-1500μm (0-60mils) | 精確(que)度*: | ±1-3% or ±2.5μm (±0.1mil) |
分辨率: | 0.1μm: 0-100μm; 1μm: 100-1500μm (0.01mil: 0-5mils; 0.1mil: 5-60mils) |
探頭(tou)設計(ji) |
| 凸面直徑(jing) | 凹(ao)面半徑 | zui小凈空高度 | zui小樣本(ben)半徑† | |
直探(tan)頭 | 鐵基 F | T456CF1S | 4mm (0.16") | 25mm (0.98") | 85mm (3.35") | 4mm (0.16") |
非鐵基 N | T456CN1S | 10mm (0.39") | 10mm (0.39") | 85mm (3.35") | 4mm (0.16") | |
兩用型(xing) FNF | T456CFNF1S | F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 26mm (1.02") | 12.5mm (0.49") | 88mm (3.46") | F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 6mm (0.24") | |
直(zhi)角探(tan)頭(tou) | 鐵(tie)基 F | T456CF1R | 4mm (0.16") | 25mm (0.98") | 28mm (1.10") | 4mm (0.16") |
非鐵基 N | T456CN1R | 10mm (0.39") | 14mm (0.55") | 28mm (1.10") | 4mm (0.16") | |
兩(liang)用型 FNF | T456CFNF1R | F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 26mm (1.02") | 12.5mm (0.49") | 38mm (1.50") | F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 6mm (0.24") | |
微型M5-90度(du)探(tan)頭 | 鐵基(ji) F | T456CFM5R90A | 3mm (0.12") | 6.5mm (0.26") | Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28") | 4mm (0.16") |
陽極氧化型 | 非鐵基 N | T456CN1AS | 10mm (1.38") | 14mm (0.55") | 100mm (3.94") | 4mm (0.16") |
PINIP探頭 | 鐵基 F | T456CF1P | 4mm (0.16") | 60mm (2.36") | 170mm (6.69") | 4mm (0.16") |
非鐵基 N | T456CN1P | 10mm (0.39") | 50mm (1.97") | 180mm (7.09") | 4mm (0.16") | |
兩用型 FNF | T456CFNF1P | F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 26mm (1.02") | 65mm (2.56") | 180mm (7.09") | F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 6mm (0.24") |
| 測量范(fan)圍: | 0-5mm (0-200mils) | 精(jing)確度(du)*: | ±1-3% or ±20μm (±1.0mil) |
分辨率: | 1μm: 0-1mm; 10μm: 1-5mm (0.1mil: 0-50mils; 1mil: 50-200mils) | |||
| 在稀薄(bo)涂層上須具(ju)有更(geng)高的分辨率和準(zhun)確性(xing),量程2鐵基探頭(tou)性(xing)能(neng)可轉化為(wei)量程1性(xing)能(neng) |
| 測量范圍: | 0-13mm (0-500mils) | 精確度*: | ±1-3% or ±50μm (±2.0mils) |
分(fen)辨率: | 1μm: 0-2mm; 10μm: 2-13mm (0.1mil: 0-100mils; 1mil: 100-500mils) |
探頭設計(ji) |
| 凸面直徑 | 凹面(mian)半徑 | zui小凈(jing)空高度(du) | zui小樣本半徑(jing)† | |
直探頭(tou) | 鐵(tie)基 F | T456CF2S | 4mm (0.16") | 25mm (0.98") | 89mm (3.50") | 8mm (0.32") |
非鐵基 N | T456CN2S | 100mm (3.97") | 150mm (5.90") | 88mm (3.46") | 14mm (0.55") | |
直(zhi)角探頭 | 鐵基(ji) F | T456CF2R | 4mm (0.16") | 25mm (0.98") | 32mm (1.26") | 8mm (0.32") |
鎧裝探頭 | 鐵基 F | T456CF2ARM | 4mm (0.16") | 25mm (0.98") | 138mm (5.43") | 8mm (0.32") |
可伸縮探頭 | 鐵基(ji) F | T456CF2T | 4mm (0.16") | 25mm (0.98") | 36mm (1.42") | 8mm (0.32") |
軟(ruan)涂層探頭 | 鐵基 F | T456CF2B | Flat Surface | Flat Surface | 89mm (3.50") | 8mm (0.32") |
防水(shui)探頭 | 鐵(tie)基(ji) F | T456CF2SW-15 | 4mm (0.16") | 40mm (1.98") | 130mm (5.12") | 8mm (0.32") |
PINIP探頭 | 鐵基(ji) F | T456CF2P | 4mm (0.16") | 60mm (2.36") | 174mm (6.85") | 8mm (0.32") |
非鐵基(ji) N | T456CN2P | 100mm (3.97") | 150mm (5.90") | 185mm (7.28") | 14mm (0.55") | |
高溫探頭(tou) 250°C (480°F) | 鐵基 F | T456CF2PHT | 4mm (0.16") | 60mm (2.36") | 174mm (6.85") | 8mm (0.32") |
| 測量范(fan)圍: | F: 0-25mm (0-980mils) | 精確度*: | ±1-3% or ±100μm (±4.0mils) |
N: 0-30mm (1200mils) | ||||
分辨(bian)率(lv): | 10μm: 0-2mm; 100μm: 2-30mm (1mil: 0-100mils; 10mils: 100-1200mils) |
探頭設計 |
| 凸面(mian)直徑(jing) | 凹面半徑 | zui小凈(jing)空高(gao)度 | zui小樣本半徑(jing)† | |
直探(tan)頭 | 鐵基 F | T456CF3S | 15mm (0.59") | 40mm (1.57") | 102mm (4.02") | 14mm (0.55") |
PINIP探頭(tou) | 鐵基 F | T456CF3P | 15mm (0.59") | 45mm (1.77") | 184mm (7.24") | 14mm (0.55") |
量程 7 | 范圍: F: | 0 - 31mm (0 - 1220mils) | 精確度(du)*: | ±1-3% or ±100µm (±4.0mil) |
分辨(bian)率: | 10μm: 0-2mm; 100μm: 2-31mm (1mil: 0-100mils; 10mils: 100-1220mils) |
探(tan)頭設計 |
| 凸(tu)面直徑 | 凹面半徑 | zui小凈空高度(du) | zui小(xiao)樣本半徑† | |
直探頭 | 鐵基 F | T456CF6S | 35mm (1.40") | 170mm (6.70") | 150mm (5.90") | 51 x 51mm² (2 x 2 sq. inch) |
非鐵基 N | T456CN6S | Flat Surface | Flat Surface | 160mm (6.30") | 58mm (2.30") | |
鎧裝探頭 | 鐵基 F | T456CF6ARM | 35mm (1.40") | 170mm (6.70") | 190mm (7.48") | 51 x 51mm² (2 x 2 sq. inch) |
非 | T456CN6ARM | Flat Surface | Flat Surface | 200mm (7.87") | 58mm (2.30") |
| 測量范圍: | 0-500μm (0-20mils) | 精確度*: | ±1-3% or ±2.5μm (±0.1mil) |
分辨率(lv): | 0.1μm: 0-100μm; 1μm: 100-500μm (0.01mil: 0-5mils; 0.1mil: 5-20mils) |
探(tan)頭樣式 |
|
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| zui小凈空高(gao)度 | zui小樣本直徑(jing)† | |
鎧裝探(tan)頭 | 鐵基 F | T456CF7ARM | 40mm (1.58") | 170mm (6.70") | 200mm (7.87") | 55 x 55mm² (2.17 x 2.17 sq. inch) |
刻度0.5石墨 | 范圍 | 0-500μm (0-20mils) | 精確度* | ±1-3%或±2.5μm(±0.1mil) |
分(fen)辨(bian)率 | 0.1μm: 0-100μm;1μm: 100-500μm(0.01mil: 0-5mils;0.1mil: 5-20mils) |
探頭設計(ji) |
| 凸面直徑 | 凹面半徑(jing) | zui小凈空高度 | zui小樣本(ben)半徑† | |
微型M3探頭 45mm (1.77") | 鐵基(ji) F | T456CFM3---A | 1.9mm (0.07") | 6.5mm (0.26") | 6mm (0.24") | 3mm (0.12") |
非鐵基N | T456CNM3---A | 6mm (0.24") | 8.5mm (0.33") | 6mm (0.24") | 4mm (0.16") | |
微型M3-90度探頭 45mm (1.77") | 鐵(tie)基 F | T456CFM3R90A | 1.9mm (0.07") | 6.5mm (0.26") | Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28") | 3mm (0.12") |
非(fei)鐵基N | T456CNM3R90A | 6mm (0.24") | 8.5mm (0.33") | Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28") | 4mm (0.16")
| |
微型M3-45度探(tan)頭(tou) 45mm (1.77") | 鐵基F | T456CFM3R45A | 1.9mm (0.07") | 6.5mm (0.26") | Headroom: 18mm (0.71") Width: 7mm (0.28") | 3mm (0.12") |
微型M3-90度角 150mm (5.90") | 鐵基F | T456CFM3R90C | 1.9mm (0.07") | 6.5mm (0.26") | Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28") | 3mm (0.12") |
非(fei)鐵(tie)基N | T456CNM3R90C | 6mm (0.24") | 8.5mm (0.33") | Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28") | 4mm (0.16") |
超(chao)聲/掃(sao)描探頭 | 范圍: 0-1500μm (0-60mils)+ |
精確度*^: ±1-3% or ±2.5μm (±0.1mil) |
分辨率(lv): 1μm: 0-1500μm (0-60mils) |
探頭樣式 |
|
凸面(mian)直徑(jing) |
凹面半徑 |
zui小凈空高度 |
zui小樣本半(ban)徑 | |||||
zui小90°石墨 | 非(fei)鐵基 N | T456CNMG3R90A | 6mm (0.24") | 8.5mm (0.33") | Headroom: 16mm (0.63") | 4mm (0.16") | ||||
zui小90°石墨 150mm (5.90") | 非鐵基(ji) N | T456CNMG3R90C | 6mm (0.24") | 8.5mm (0.33") | Headroom: 16mm (0.63") | 4mm (0.16") | ||||
zui小90°石墨 | 非(fei)鐵(tie)基 N | T456CNMG3R90E | 6mm (0.24") | 8.5mm (0.33") | Headroom: 16mm (0.63") | 4mm (0.16") | ||||
探頭樣式 |
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| zui小凈空高度 | zui小樣本半徑† | ||||||
超(chao)聲/掃描探頭(tou) | 鐵(tie)基F | T456CF1U | 85mm (3.50") | 5mm (0.59") | ||||||
兩(liang)用型 FNF | T456CFNF1U | 85mm (3.50") | 5mm (0.59") | |||||||
產品信息 |
| T456C23956 | 超聲/掃描(miao)探頭備用保護(hu)蓋(3/包)# |
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